近日，中国工程院院士、大连理工大学原校长郭东明一行实地参观了微旷科技高性能CT中心，了解了我司的创新成果。
在参观过程中，微旷科技应用工程师古斌斌为郭东明一行介绍了微旷科技的代表性创新成果——自主研发的极端服役环境X射线高性能显微CT及其在各领域的代表性案例成果。
当了解到微旷科技自研的多功能原位X射线显微CT打破国外垄断，实现国产替代时，郭东明一行表示充分肯定。
微旷科技高性能CT中心
未来，微旷科技将与广大用户继续共同探索前沿，让X射线CT技术为各行各业提供更加可靠、高效的检测和解决方案。
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