3月18日，新加坡科技研究局专家调研团莅临微旷科技高性能CT中心参观指导，微旷科技总经理李仁庚热情接待。
参观中，微旷科技总经理李仁庚向新加坡科技研究局专家调研团详细介绍了微旷科技的发展历程。调研团一行深入了解到我司在“拨投结合”模式下，从技术研发到产业落地的创新路径。
随后，微旷科技总经理李仁庚围绕原位表征技术在材料研究领域的重要性，向调研团一行介绍了微旷科技代表性创新成果——自主研发的极端服役环境X射线高性能显微原位CT，以及WK-XFunct系列热力耦合原位台，并全面展示了其应用于各领域的专业解决方案和4D原位案例。
参观中，双方深入交流了相关技术问题，并对未来可能合作的领域进行了探讨。
参观结束时，调研团一行对我司的自主研发能力和在原位表征技术上取得的技术突破表示高度赞赏，并对我司未来的研发工作表示了鼓励与期待。
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